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二手 日本電子 SEM IT100掃描電鏡主要特點(diǎn)為全數字化控制系統，高分辨率、高精度的變焦聚光鏡系統、全對中樣品臺及高靈敏度半導體背散射探頭；用于各種材料的形貌組織觀(guān)察、金屬材料斷口分析和失效分析。該型號在很多大學(xué)、研究院所及制造業(yè)被廣泛使用。
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二手FEI+JEOL+HITACHI掃描電鏡：掃描電鏡（SEM）是利用電子束掃描樣品表面，產(chǎn)生二次電子等信號，通過(guò)檢測這些信號來(lái)獲取樣品表面形貌、成分等信息。SEM的優(yōu)點(diǎn)是分辨率高，可觀(guān)察到納米級別的細節，景深大，能清晰呈現三維形貌，可同時(shí)進(jìn)行成分分析。
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二手ZEISS-FEI掃描電鏡掃描電子顯微鏡作為一種強大的微觀(guān)分析工具，能夠實(shí)現對樣品表面形貌的高分辨率觀(guān)察，為材料科學(xué)、生物醫學(xué)、地質(zhì)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究提供了強大的技術(shù)支持。以其出色的分辨率和廣泛的放大倍數范圍，能夠滿(mǎn)足不同研究領(lǐng)域的精細觀(guān)察需求。
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二手日本電子（SEM）IT-300提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿(mǎn)足您對 W-SEM 機型的期待，鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質(zhì)量有所提高
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二手日本電子SEM+EDX JSMIT300掃描電子顯微鏡經(jīng)過(guò)改進(jìn)照射系統、真空系統和信號處理系統，不僅能觀(guān)察高質(zhì)量的圖像，還能利用觸控屏和快速樣品臺進(jìn)行高通量的直觀(guān)操作。JSM-IT300 提供高畫(huà)質(zhì)圖像，能滿(mǎn)足您對W-SEM機型的期待，新的鏡筒設計和掃描系統使得不導電樣品的圖像質(zhì)量有了顯著(zhù)的提高。
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二手FEI-SEM電鏡 FEI-QUANTA250 FEI Quanta 系列包括六款可變壓力和環(huán)境掃描電子顯微鏡 (ESEM™)。所有這些產(chǎn)品均可滿(mǎn)足工業(yè)工藝控制實(shí)驗室、材料科學(xué)實(shí)驗室和生命科學(xué)實(shí)驗室的多種樣本和成像要求。
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（2手）掃描電鏡SEM+EDX分析型掃描電子顯微鏡，與日本電子公司的元素分析儀（EDS），統合于一體。結構緊湊的EDS由顯微鏡主體系統的電腦控制，操作員只用一只鼠標，就可完成從圖像觀(guān)測到元素分析的整個(gè)過(guò)程。
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